Judul: Mengenal Scanning Electron Microscopy (SEM), Jilid 1

Penulis: Subaer, Resky Irfanita, Armayani. M

ISBN 978-623-5330-27-3 (no.jil.lengkap)

978-623-5330-28-0 (jil.1 )

Desainer cover dan tata letak: Resky Irfanita

Penerbit: Jariah Publishing Intermedia

Anggota IKAPI
No. 043/SSL/2022

Dimensi: 15,5 x 23 cm; 136 hlm

Softcover

Distributor: Jariah Publishing

Buku Mengenal Scanning Electron Microscopy (SEM),  terdiri  atas  enam  bab  dan  sebuah  appendiks  yang  berisi sejumlah citra SEM serta spektrum EDS (Energy Dispersive Spectroscopy). Bab 1 memperkenalkan  pembaca kepada dunia mikroskopi  dan memberikan  gambaran  akan  peranan  serta  perkembangan  bidang mikroskop  bagi  kemajuan  sains  dan  teknologi  dewasa  ini. Bab 2 menyajikan  konsep  optik  elektron yang dimulai dari  prinsip dasar pembentukan bayangan sampai bentuk dan prinsip lensa elektromganetik yang digunakan di dalam mikroskop elektron. Pendekatan  matematika sangat dikurangi di dalam bab ini agar pembaca yang tidak mendalami ilmu fisika khususnya optik tetap dapat mengikuti bab ini dengan baik. Bab 3 menyajikan prinsip dasar interaksi  elektron-spesimen yang memberikan gambaran bagaimana elektron tersebut dapat memberikan citra permukaan sampel yang diuji. Bab 4 menyajikan informasi mengenai instrumen atau piranti yang menyusun sebuah mikroskop elektron. Pengetahuan akan piranti  ini membantu pembaca untuk memaksimalkan kualitas citra SEM yang diharapkannya. Bab 5 mendiskusikan proses pembentukan dan interpretasi  citra SEM. Bab 6 menyajikan fungsi analitik mikroskop elektron yang berkaitan dengan pemanfaatan sinar-x  untuk  menentukan kompisisi elemental bahan yang diuji.